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IEC60068-2/GB2423試驗標(biāo)準(zhǔn)

  • 發(fā)布日期:2016-05-04      瀏覽次數(shù):7057
    • 一、電子電工產(chǎn)品IEC60068-2/GB/T2423
      1、低溫試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.1:2008;IEC60068-2-1:2007
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫
      試驗?zāi)康?/td>確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的使用、運輸或貯存的能力
      試驗方法/條件Ab非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗
      Ad非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-溫度穩(wěn)定后通電
      Ae非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-整個過程通電
      嚴(yán)酷等級溫度:-65℃;-55℃;-50℃;-40℃;-33℃;-25℃;-20℃;-10℃;-5℃;5℃
      時間2h,16h,72h,96h
      匹配設(shè)備小型環(huán)境試驗箱、小型超低溫試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室
      設(shè)備要求溫度變化速率不超過1K/min(不超過5min的平均值)
      試驗空間溫度容差±2K
        
      2、高溫試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.2:2008;IEC60068-2-2:2007
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫
      試驗?zāi)康?/td>確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的使用、運輸或貯存的能力
      試驗方法/條件Bb非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗
      Bd非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-溫度穩(wěn)定后通電
      Be非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-整個過程通電
      嚴(yán)酷等級溫度:1,000℃;800℃;630℃;500℃;400℃;315℃;250℃;175℃;155℃;70℃;65℃;60℃;55℃;50℃;45℃;40℃;35℃;30℃
      時間2h,16h,72h,96h,168h,240h,336,1,000h
      匹配設(shè)備小型高溫試驗箱、高溫試驗箱、小型環(huán)境試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室
      設(shè)備要求溫度變化速率不超過1K/min(不超過5min的平均值)
      試驗空間溫度容差±2K
        
      3、濕熱試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.3:2006;IEC60068-2-78:2001
      GB/T2423.4:2008;IEC60068-2-30:2005
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))
      試驗?zāi)康?/td>確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕環(huán)境下的使用、運輸或貯存時的適應(yīng)性
      試驗方法/條件恒定濕熱試驗
      嚴(yán)酷等級溫/濕度(30±2)℃(93±3)%RH;(30±2)℃(85±3)%RH;(40±2)℃(93±3)%RH;(40±2)℃(85±3)%RH;
      時間12h,16h,24h,2d,4d,10d,21d,56d
      匹配設(shè)備小型恒溫恒濕試驗箱、小型環(huán)境試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室
      設(shè)備要求試驗空間溫度容差±2K,任何兩點偏差小于1K,短期波動小于0.5K
        
      4、溫度/濕度組合循環(huán)試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.34:2005;IEC60068-2-38:2009
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度
      試驗?zāi)康?/td>主要用于元器件類試驗樣品,以加速方式來確定試驗樣品在高溫、高濕和低溫條條件作用下的耐受性能。
      (采用高相對濕度下的溫度循環(huán)并產(chǎn)生水汽進(jìn)入部分密封試驗樣品的“呼吸”作用;還包含低溫暴露,以測定周期性結(jié)冰對試驗樣品的影響)。
      試驗方法/條件(25±2)℃(93±3)%→1.5h~2.5h→(65±2)℃(93±3)%5.5h→1.5h~2.5h→(25±2)℃(93±3)%8h→
      1.5h~2.5h→(65±2)℃(93±3)%13.5h→1.5h~2.5h→(25±2)℃(93±3)%24h(17.5h)→0.5h→(-10±2)℃21h→1.5hh→(25±2)℃(93±3)%24h(3.5h)24h為一個循環(huán),一般10個循環(huán);前9個循環(huán)內(nèi)5個循環(huán)加入低溫試驗
      嚴(yán)酷等級 
      時間 
      匹配設(shè)備小型環(huán)境試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室
      設(shè)備要求1.5h~2.5h內(nèi)溫度在(25±2)℃~(65±2)℃之間變化恒溫和升溫期間,相對濕度保持在(93±3)%,
      降溫時能保持在80~96%30min以內(nèi)能夠從(25±2)℃降到(-10±2)℃;90min(-10±2)℃升到(25±2)℃
        
      5、溫度變化試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
      試驗Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時間的快速溫度變化
      試驗?zāi)康?/td>確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力
      試驗方法/條件溫度從低溫試驗和高溫試驗規(guī)定的試驗溫度中選取
      循環(huán)次數(shù)5次或者相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
      嚴(yán)酷等級嚴(yán)酷等級由高低溫度值、轉(zhuǎn)換時間和循環(huán)次數(shù)確定
      時間暴露時間為3h,2h,1h,30min或10min
      轉(zhuǎn)換時間(2~3)min,(20~30)s,<10s
      恢復(fù)時間≤0.1暴露時間
      匹配設(shè)備小型提籃式冷熱沖擊試驗箱、大型提籃式冷熱沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗箱
      設(shè)備要求風(fēng)速小于2m/s;恢復(fù)時間小于10%暴露時間;箱壁溫度不超過試驗溫度的3%(高溫)和8%(低溫)(開爾文溫度)且樣品不直接受到輻射
        
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
      試驗Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
      試驗?zāi)康?/td>確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品耐環(huán)境溫度變化的能力和在環(huán)境溫度變化期間的工作能力
      試驗方法/條件 
      嚴(yán)酷等級嚴(yán)酷等級由高低溫度值、轉(zhuǎn)換時間和循環(huán)次數(shù)確定
      溫度從低溫試驗和高溫試驗規(guī)定的試驗溫度中選取
      溫變速率為不超過5min的平均值,(1±0.2)℃/min、(3±0.6)℃/min、(5±1)℃/min
      循環(huán)次數(shù)2次或者相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
      時間暴露時間為3h,2h,1h,30min或10min
      匹配設(shè)備小型快速溫度變化試驗箱,快速溫度變化試驗箱,溫度循環(huán)試驗箱
      設(shè)備要求風(fēng)速小于2m/s、恢復(fù)時間小于10%暴露時間、箱壁溫度不超過試驗溫度的3%(高溫)
      和8%(低溫)(開爾文溫度)且樣品不直接受到輻射。
        
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
      試驗Nc:兩液槽法溫度快速變化
      試驗?zāi)康?/td>確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度快速變化的能力
      試驗方法/條件低溫槽裝有相關(guān)規(guī)范規(guī)定的低溫TA液體(0℃)、高溫槽裝有相關(guān)規(guī)范規(guī)定的高溫TB液體(100℃)、
      低溫槽溫度不超過溫度值的2℃、高溫槽溫度不低于溫度值的5℃
      嚴(yán)酷等級嚴(yán)酷等級由規(guī)定的槽液溫度、轉(zhuǎn)換時間及循環(huán)數(shù)來確定(兩組標(biāo)準(zhǔn)條件)
      循環(huán)次數(shù)為10次或者相關(guān)規(guī)范規(guī)定
      時間t2=(8±2)s5min≤t1<20min(t2:轉(zhuǎn)換時間、t1:暴露時間)
      t2=(2±1)s15s≤t1<5min
      匹配設(shè)備液槽試?yán)錈釠_擊試驗箱
      設(shè)備要求高低溫液槽,便于樣品浸入及迅速轉(zhuǎn)換
      低溫槽溫度不超過溫度值的2℃、高溫槽溫度不低于溫度值的5℃
      液體與試驗樣品的材料和保護(hù)層適應(yīng)
        
      6、潤濕性非飽和高壓蒸煮試驗
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.40-1997;IEC60068-2-66/1994
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
      試驗?zāi)康?/td>試驗樣品在相對短的時間內(nèi)承受的未飽和濕熱蒸汽的作用
      試驗方法/條件如相關(guān)規(guī)范有要求,應(yīng)在暴露期間給試驗樣品施加偏壓
      試驗結(jié)束,箱內(nèi)的壓力、溫度和相對濕度在1~4h內(nèi)回復(fù)到測量和試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件
      嚴(yán)酷等級 
      時間 
      匹配設(shè)備高壓加速老化試驗箱
      設(shè)備要求能夠產(chǎn)生要求的溫度和相對濕度,并能維持給定的壓力
      提供受控試驗條件并按要求的斜率上升或下降到規(guī)定的試驗條件
      能夠監(jiān)測溫度和濕度,試驗前可以水蒸氣把空氣排出,不允許冷凝水跌落在試驗品上
      結(jié)構(gòu)材料不應(yīng)引起試驗樣品腐蝕或加濕水的水質(zhì)劣化
        
      7、絕緣電阻可靠性測試 
      標(biāo)準(zhǔn)編號JPCA-ET04:2007
      標(biāo)準(zhǔn)名稱絕緣電阻試驗
      試驗?zāi)康?/td>對實裝前印刷電路板在高溫高濕及加電的條件下進(jìn)行電子化學(xué)遷移及絕緣劣化進(jìn)行評價試驗
      試驗方法/條件(JPCA-ET01~09:2007,日本電子回路工業(yè)會,01通則,0240℃93%RH,0360℃90%RH,0485℃85%RH,
      05溫度循環(huán),06溫濕度組合(低溫),07溫濕度組合,08不飽和蒸汽壓,09結(jié)露循環(huán))
      嚴(yán)酷等級10E12以上電阻測量,DC5~100V
      時間2,000h連續(xù)運行可能
      匹配設(shè)備 
      設(shè)備要求溫濕度箱:出風(fēng)口風(fēng)速2.5m/s以上;分布±2℃±3%RH;不會造成試樣及加濕水污染;無凝露水滴落
      絕緣電阻測試儀:測量范圍E6~E12Ω(E13Ω參考值);內(nèi)置電源,試驗電壓及測量電壓能夠任意選擇;測量電阻范圍能夠自動選擇,加電時間能夠滿足規(guī)范JISZ3197(ANSIJSTD004)要求
        
      9、鹽霧試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.17:2008;IEC60068-2-11:1981
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ka:鹽霧
      試驗?zāi)康?/td>適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力,也適用于評定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性
      試驗方法/條件鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比),(35±2)℃時PH值6.5~7.2內(nèi)
      試驗箱的溫度維持在(35±2)℃,收集鹽霧每小時的沉降量在1.0~2.0mL之間及測試PH值
      嚴(yán)酷等級 
      時間16h,24h,48h,96h,168h,336h,672h
      匹配設(shè)備SQ系列
      設(shè)備要求試驗條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml~2ml/80cm^2•h;
      足夠的空間內(nèi)條件穩(wěn)定均一,鹽霧不能直接噴射到樣件上,冷凝水不能跌落到樣品上
      有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力,噴霧裝置形成細(xì)小、潤濕、濃密的霧
        
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.18:2000;IEC60068-2-52:1996
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)
      試驗?zāi)康?/td>適用于預(yù)定耐受含鹽大氣的元件或設(shè)備,其耐受程度隨選用的嚴(yán)酷等級定
      試驗方法/條件鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比),(20±2)℃時PH值6.5~7.2內(nèi)
      噴霧溫度在15~35℃,收集鹽霧每小時的沉降量在1.0~2.0mL之間
      嚴(yán)酷等級嚴(yán)酷等級(1):(2h噴霧周期+7天的濕熱貯存)*4次
      嚴(yán)酷等級(2):(2h噴霧周期+20h~22h濕熱貯存)*3次
      嚴(yán)酷等級(3):(2h噴霧周期+20h~22h濕熱貯存)*3次+標(biāo)準(zhǔn)大氣3天貯存
      嚴(yán)酷等級(4),(5),(6):分別為(3)*2次、4次、8次
      時間 
      匹配設(shè)備SQ系列+J系列
      設(shè)備要求試驗條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml~2ml/80cm^2•h;足夠的空間穩(wěn)定均一、鹽霧不能直接噴射到樣件上、冷凝水不能跌落到樣品上、有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力、噴霧裝置形成細(xì)小、潤濕、濃密的霧。
      濕熱箱:(93-3+2)%、溫度40℃±2℃
      標(biāo)準(zhǔn)大氣箱:溫度23℃±2℃、濕度45%~55%
        
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T10125:1997;ISO9227:2006
      標(biāo)準(zhǔn)名稱人造氣氛下的腐蝕實驗-鹽霧試驗
      試驗?zāi)康?/td>適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力,也適用于評定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性
      試驗方法/條件鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比),(35±2)℃時PH值6.5~7.2內(nèi)試驗箱的溫度維持在(35±2)℃,收集鹽霧每小時的沉降量在1.0~2.0mL之間及測試PH值
      嚴(yán)酷等級 
      時間16h,24h,48h,96h,168h,336h,672h
      匹配設(shè)備SQ系列
      設(shè)備要求試驗條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml~2ml/80cm^2•h;足夠的空間穩(wěn)定均一、鹽霧不能直接噴射到樣件上、冷凝水不能跌落到樣品上、有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力、噴霧裝置形成細(xì)小、潤濕、濃密的霧
        
      11、振動試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.10:2008;IEC60068-2-6:2007
      GB/T2423.56:2006;IEC60068-2-64:2008
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦)
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fh:寬帶隨機(jī)振動和導(dǎo)則
      試驗?zāi)康?/td>確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品經(jīng)受規(guī)定嚴(yán)酷程度(正弦、寬帶隨機(jī))振動的能力
      試驗方法/條件Fc的嚴(yán)酷等級--有三個參數(shù)確定:頻率范圍、振動幅值、耐久試驗的持續(xù)時間(定頻耐久、掃頻耐久);規(guī)范中選取
      Fh的嚴(yán)酷等級—有四個參數(shù)確定:頻率范圍、加速度譜密度值、加速度譜密度的譜型、試驗持續(xù)時間;規(guī)范中選取
      嚴(yán)酷等級 
      時間 
      匹配設(shè)備電動振動試驗系統(tǒng)
      DC-3200-36:31.36KN(3,200kgf),980m/s2,51mmp-p,2~2,500Hz
      設(shè)備要求 
        
      12、溫度振動試驗 
      標(biāo)準(zhǔn)編號GB/T2423.35:2005;IEC60068-2-50:1983
      GB/T2423.36:2005;IEC60068-2-51:1983
      標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z-AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫-振動(正弦)綜合試驗
      電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z-Bfc:散熱和散熱試驗樣品的高溫-振動(正弦)綜合試驗
      試驗?zāi)康?/td>確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在(低溫/高溫)與振動綜合條件下使用、貯存和運輸?shù)倪m應(yīng)性。
      試驗方法/條件 
      嚴(yán)酷等級低溫試驗/高溫試驗確定溫度的嚴(yán)酷等級
      從振動試驗Fc確定振動的嚴(yán)酷等級
      時間 
      匹配設(shè)備溫度、濕度、振動三綜合試驗設(shè)備
      設(shè)備要求 
    聯(lián)系方式
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